โหลดอิเล็กทรอนิกส์ DC แบบตั้งโปรแกรมได้ความเร็วสูง N67000

●การทดสอบแหล่งจ่ายไฟเซิร์ฟเวอร์, UPS, แหล่งจ่ายไฟสื่อสาร

●การทดสอบเซ็นเซอร์ ชิป AI

●การทดสอบการคายประจุของเซลล์เชื้อเพลิง แบตเตอรี่ไฟฟ้า แบตเตอรี่สำรองตะกั่ว

●การทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์กำลังไฟฟ้า

●การทดสอบอายุการใช้งานของฟิวส์และรีเลย์

ตอบสนองความเร็วสูงพิเศษด้วยความสามารถในการโหลดระดับ μs

ด้วยความเร็วในการโหลดปัจจุบันสูงสุดถึง 60A/μs สำหรับหน่วยเดียวและความชันมากกว่า 100A/μs สำหรับหลายหน่วยที่ขนานกัน N67000 จึงตอบสนองความต้องการของสถานการณ์การทดสอบ เช่น เซ็นเซอร์ ชิป AI และแหล่งจ่ายไฟแบบสวิตชิ่งความเร็วสูง ในการทดสอบแหล่งจ่ายไฟ เมื่อแหล่งจ่ายไฟจำเป็นต้องปรับเอาต์พุตอย่างรวดเร็วเพื่อให้สอดคล้องกับการเปลี่ยนแปลงโหลด ความสามารถในการตอบสนองอย่างรวดเร็วจะช่วยให้มั่นใจได้ถึงความแม่นยำของผลการทดสอบ ในระบบการทดสอบ ซีรีส์ N67000 สามารถจำลองการเปลี่ยนแปลงโหลดภายใต้เงื่อนไขการทำงานจริงได้อย่างแม่นยำยิ่งขึ้น จึงมอบสภาพแวดล้อมการทดสอบที่สมจริงยิ่งขึ้น

การเชื่อมต่อแบบขนานเพื่อขยายกำลังไฟฟ้า

N67000 รองรับการเชื่อมต่อแบบขนานโดยมาสเตอร์+สเลฟและการแบ่งปันกระแสไฟฟ้าแบบแอ็คทีฟ เมื่อจำเป็นต้องเพิ่มพลังงานโหลด รุ่นที่มีข้อกำหนดแรงดันไฟฟ้าเดียวกันสามารถเชื่อมต่อแบบขนาน (มาสเตอร์ + สเลฟ) เพื่อให้ได้กระแสไฟฟ้าและพลังงานที่ต้องการ เมื่อใช้ N67000 ผู้ใช้จะต้องตั้งค่ากระแสไฟฟ้าบนมาสเตอร์เท่านั้น กระแสไฟฟ้าสเลฟจะถูกกระจายโดยอัตโนมัติ ซึ่งช่วยลดขั้นตอนการทำงาน

โหมดการทำงานหลายแบบสำหรับสถานการณ์การทดสอบหลายแบบ

N67000 รองรับโหมดการทำงานปกติสี่โหมด ได้แก่ CC, CV, CP และ CR เพื่อให้สามารถรับมือกับการเปลี่ยนแปลงลักษณะโหลดในกระบวนการทดสอบจริง N67000 จึงได้รับการพัฒนาด้วยโหมดการทำงานรวมสี่โหมด ได้แก่ CV+CC, CR+CC, CV+CR, CP+CC ตัวอย่างเช่น CR+CC เหมาะสำหรับการทดสอบการสตาร์ทของแหล่งจ่ายไฟเพื่อป้องกันการป้องกันกระแสเกินเมื่อเปิดแหล่งจ่ายไฟ CV+CR สามารถแทนที่การตั้งค่าแอปพลิเคชันของจุด Von ได้ CV+CC สามารถจำลองกระบวนการเปลี่ยนโหมดการทำงานของการชาร์จแบตเตอรี่ ผู้ใช้สามารถเลือกโหมดการทำงานที่แตกต่างกันสำหรับการทดสอบตามสถานการณ์จริงของตน

โหมดไดนามิกความเร็วสูงพร้อมการกวาดความถี่แบบไดนามิก

N67000 มีโหมดไดนามิกความเร็วสูง สามารถทดสอบลักษณะไดนามิกของแหล่งจ่ายไฟ DC ได้โดยจำลองพฤติกรรมโหลดไดนามิกของแหล่งจ่ายไฟผ่านโหมดไดนามิก N67000 นำเสนอการกวาดความถี่ไดนามิกและโหมดไดนามิกที่ตั้งโปรแกรมได้ รวมถึงไดนามิกกระแสคงที่ CCD ไดนามิกแรงดันคงที่ CVD ไดนามิกความต้านทานคงที่ CRD ไดนามิก และไดนามิกกำลังคงที่ CPD โหมดโหลดไดนามิกที่ตั้งโปรแกรมได้ช่วยให้ตั้งค่าช่วงสูง/ต่ำ อัตราการเปลี่ยนแปลงการขึ้น/ลง ฯลฯ ได้

การทดสอบการชาร์จ/การคายประจุ

ผู้ใช้สามารถตั้งค่าเงื่อนไขต่างๆ บนแผงด้านหน้าเพื่อให้ตรงตามความต้องการในการทดสอบของตน ตัวอย่างเช่น เมื่อแรงดันไฟแบตเตอรี่ต่ำกว่าแรงดันไฟเริ่มต้น ตัวนับภายใน N67000 จะเริ่มนับ ตัวนับจะหยุดทำงานจนกว่าแรงดันไฟแบตเตอรี่จะลดลงถึงแรงดันไฟตัด

การทดสอบ OCP (การป้องกันกระแสเกิน)

ระหว่างการทดสอบ OCP N67000 จะโหลดภายใต้โหมด CC และตรวจสอบว่าแรงดันไฟฟ้า DUT ต่ำกว่าแรงดันไฟฟ้าตัดหรือไม่ หากต่ำกว่านี้ N67000 จะบันทึกกระแสโหลดปัจจุบันเป็นผลการทดสอบและปิดอินพุตเพื่อหยุดการทดสอบ หากแรงดันไฟฟ้า DUT สูงกว่าแรงดันไฟฟ้าตัด N67000 จะเพิ่มกระแสโหลดจนกว่าแรงดันไฟฟ้า DUT จะต่ำกว่าแรงดันไฟฟ้าตัดหรือถึงกระแสโหลดสูงสุด

ขนาดสินค้า